Hem > Produkter > Integrerade kretsar (ICS) > Logik - Speciallogik > SN74BCT8245ANT
RFQs/beställning (0)
Svenska
Svenska
891821

SN74BCT8245ANT

Begär offert

Fyll i alla nödvändiga fält med din kontaktinformation. Klicka "Skicka RFQ" Vi kommer att kontakta dig inom kort via e -post.Eller maila oss:info@ftcelectronics.com
Förfrågan Online
Specifikationer
  • Artikelnummer
    SN74BCT8245ANT
  • Tillverkare / Brand
  • Lagerkvantitet
    I lager
  • Beskrivning
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
  • Ledningsfri status / RoHS-status
    Blyfri / Överensstämmer med RoHS
  • Ecad -modell
  • Matningsspänning
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Leverantörs Device Package
    24-PDIP
  • Serier
    74BCT
  • Förpackning
    Tube
  • Förpackning / Fodral
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Driftstemperatur
    0°C ~ 70°C
  • Antal bitar
    8
  • Monteringstyp
    Through Hole
  • Fuktkänslighetsnivå (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logik typ
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Ledningsfri status / RoHS-status
    Lead free / RoHS Compliant
  • detaljerad beskrivning
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
  • Bas-delenummer
    74BCT8245
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Beskrivning: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

tillverkare: Luminary Micro / Texas Instruments
I lager

Välj språk

Klicka på utrymmet för att avsluta